The paper is a tutorial on the basic concepts of semiconductor device reliability, with particular emphasis on accelerated testing procedures, definition of reliability, calculation of failure rates etc.
L'affidabilità dei dispositivi a semiconduttore
ZANONI, ENRICO
1983
Abstract
The paper is a tutorial on the basic concepts of semiconductor device reliability, with particular emphasis on accelerated testing procedures, definition of reliability, calculation of failure rates etc.File in questo prodotto:
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